通知公告

分析測試中心JEM-ARM300F透射電鏡試運行通知

發(fā)表時(shí)間: 2024-03-29 09:17:35

分析測試中心購買的日本電子JEM-ARM300F透射電鏡，現已完成(chéng)部分功能(néng)調試，將(jiāng)于2024年4月1日開(kāi)始試運行。歡迎老師同學(xué)前來咨詢測試！

安置地點：哈爾濱工業大學(xué)科學(xué)園B1棟102室

設備負責人：鄒永純

聯系電話：15045082576

一、測試功能(néng)

  • 明場像（開(kāi)放）
  • 高分辨像（開(kāi)放）
  • 能(néng)譜：元素含量定性、半定量分析（開(kāi)放）
  • STEM原子像（暫不開(kāi)放）
  • EELS（暫不開(kāi)放）
  • 電子全息（暫不開(kāi)放）

二、樣(yàng)品要求

非磁性粉末樣(yàng)品（試運行期間）

三、技術指标

  • 加速電壓：300 kV, 200 kV, 80 kV, 60 kV；
  • TEM晶格分辨率：50 pm@300 kV；
  • TEM信息分辨率：60 pm@300 kV；
  • STEM分辨率：52 pm@300 kV；
  • EDS分辨率：優于133 eV；
  • EELS分辨率：優于0.35 eV。

四、應用領域及特色

該設備可用于材料、物理、化學(xué)、生物等各領域樣(yàng)品表面(miàn)微觀形貌、結構分析，原子級成(chéng)像及成(chéng)分分析、元素成(chéng)分定性、半定量分析。

特色1：物鏡校正成(chéng)像


特色2：選區電子衍射


特色3：材料的原子尺度觀察


特色4：材料的原子尺度成(chéng)分分析


特色5：電子全息成(chéng)像


五、收費标準（試運行階段，教師操作）

  • TEM功能(néng)（明場像、高分辨像、能(néng)譜）：校内1100元/小時(shí)；校外1800元/小時(shí)

    STEM功能(néng)（原子像、原子級成(chéng)分分析）：校内1500元/小時(shí)；校外2500元/小時(shí)

六、備注

  • 由于目前僅完成(chéng)TEM功能(néng)調試，試運行期間隻開(kāi)放TEM功能(néng)，且隻對(duì)校内開(kāi)放；
  • STEM原子像功能(néng)具備開(kāi)放條件時(shí)，將(jiāng)第一時(shí)間在中心網站發(fā)布開(kāi)放通知，敬請關注。


分析測試中心

2024年3月29日